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- 密度测量仪
- 张力均匀性测量仪
- 面密度/厚度一体测量机
- 激光在线测厚仪
- 密度测量仪
名称：多架跟踪同步测量系统
品牌：深圳大成精密
简介：
多架跟踪同步测量系统，能够分别测量基材、单面、双面的涂布重量， 高精度的运动跟踪轨迹，测量出极片准确位置的实际涂层重量，此系统可应用于X/β面密度测量仪。
产品亮点：
1.天然大理石O架，无应力，保证长期稳定不变形
2．测量精度：<真实值±1‰
3．达到20m/min的有效扫描速度
4．实时的X/Y方向坐标补偿，可以实时恢复由于滚筒打滑等原因造成的同步误差
5．同步跟踪误差<=±3mm(涂布速度<30m/min时)
6．EtherCat工业以太网通讯，最小扫描周期可达1ms
7．同步跟踪误差： 涂布速度<30m/min下，同步误差<=±3mm
产品配置：
1.大理石O架结构
2．射线类型： 根据客户需求选择（Beta或者X）
3．EtherCat现场总线结构，安装维护简单
4．国外进口高精度电离室
5．多层铅板结构防辐射
6．专业的间歇涂布数据处理
7．高级SPC控制图
8．驱动系统：高精度伺服驱动
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多架运动控制参数 |
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分类参数
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多架跟踪同步测量系统DC-ER-ON-B20 |
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重复精度 |
±1‰ |
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同步跟踪误差 |
涂布速度<30m/min下，同步误差<=±3mm |
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扫描速度 |
可高达20m/min |
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机械结构 |
大理石O架 |
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驱动系统 |
高精度伺服驱动 |
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辐射屏蔽 |
500mci 2.5uSv/h |
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适用场合 |
阴/阳极涂布 |
1.大理石O架结构
2．射线类型： 根据客户需求选择（Beta或者X）
3．EtherCat现场总线结构，安装维护简单
4．国外进口高精度电离室
5．多层铅板结构防辐射
6．专业的间歇涂布数据处理
7．高级SPC控制图
8．驱动系统：高精度伺服驱动